秀山X射线显微镜Xradia 610 Versa “定位-和-放大”技术可以快速获取内部结构，无需对样品进行处理;优异的亚微米分辨率可实现对工艺参数和材料表征进行详细分析;更快效率可对增材制造工艺过程及质量进行检查。
⚫ 增材制造(AM)粉末床中颗粒形状、尺寸和分布成像，以确定合适工艺参数;
⚫ 用于零件微观结构分析的高分辨率无损成像;
⚫ 用于与标称CAD图示相比较的增材制造(AM)三维成像;
⚫ 未熔化颗粒、高原子序数夹杂物和空洞的检测分析;
⚫ 其它方法无法获取的内部结构进行表面粗糙度分析。
